درحال بارگزاری ...

میکروسکوپ الکترونی روبشی Scanning Electron Microscope

کاربرد آزمایشگاهی: میکروسکوپ الکترونی روبشی برای مشاهده و لیتوگرافی نانوساختار B. Rajau, Phototheque CNRS منبع : SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SEM میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM میکروسکوپ الکترونی روشی SEM امکان گرفتن تصاویر زیادی از سطح نمونه‌های ضخیم و تجزیه و تحلیل ترکیب آنها را فراهم میکند. یک پرتو الکترون بر سطح نمونه متمرکز میشود که پس […]

میکروسکوپ تونلی روبشی Scanning Tunneling Microscope

کاربرد آزمایشگاهی:استفاده میکروسکوپ تونلی روبشی برای مشاهده لایه های نازک H. Raguet, Photothèque CNRS منبع : SCANNING TUNNELING MICROSCOPE STM میکروسکوپ تونلی روبشی STM میکروسکوپ تونلی روبشی STM امکان اندازه‌گیری توپوگرافی رساناها، موقعیت اتم های آنها و خصوصیات الکترون در فلز را فراهم می‌کند. یک سوزن نوک تیز رسانا در نزدیکی سطح نمونه رسانا قرار […]

میکروسکوپ الکترونی عبوری Transmission Electron Microscope

کاربرد آزمایشگاهی: استفاده میکروسکوپ الکترونی عبوری برای مطالعه نمونه های بیولوژیکی B. Rajau, Photothèque CNRS منبع : TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE TEM میکروسکوپ الکترونی عبوری TEM میکروسکوپ الکترونی عبوری TEMبه اجازه میدهد تصاویر بزرگی از نمونه‌های بسیار نازک به دست آوریم و ترکیبات آنها را تجزیه و تحلیل کنیم. یک پرتو الکترونی پرانرژی به سمت نمونه […]

گرافن و مخروط دیراک

در آزمایشگاه: مطالعات روی گرافن یک دانشمند ساختار گرافن را با توجه به کاربرد های آن مطالعه می‌کند ، اما بطور بنیادی نیز ان را بررسی میکند تا رفتار کوانتومی آن را درک کند. به طور خاص، مخروط های دیراک که فیزیک الکترون ها را کنترل می کنند، یک موضوع پژوهشی بسیار غنی در دیگر […]

میکروسکوپ فلورسانس هم کانون confocal fluorescence microscopy

در آزمایشگاه: درحال استفاده از یک میکروسکوپ فلورسانس هم کانون (H. Raguet، Phototheque CNRS ) منبع : FLUORESCENT AND CONFOCAL میکروسکوپ فلوروسانس هم کانون (confocal fluorescence microscopy) میکروسکوپ فلورسانس امکان حضور و مکان یابی مولکول های فلورسنت در نمونه را فراهم می‌کند. میکروسکوپ هم کانون یک میکروسکوپ فلورسانس خاص است که امکان بدست آوردن تصاویر […]

میکروسکوپ نیروی اتمی Atomice Force Microscope

کاربرد آزمایشگاهی: میکروسکوپ نیروی اتمی برای مشاهده نانو ساختار J. Chatin, Phototheque CNRS منبع : ATOMIC FORCE MICROSCOPE AFM میکروسکوپ نیروی اتمی AFM میکروسکوپ نیروی اتمی AFM، امکان اندازه‌گیری توپوگرافی (ویژگی های سطح ) مواد مختلف را با قدرت تفکیک اتمی فراهم می‌کند. نوک سوزن در انتهای کانتیلیور در نزدیکی سطح ماده قرار می گیرد. […]